二手 PHILIPS / FEI XL 30 #293809599 待售

PHILIPS/FEI XL 30掃描電子顯微鏡（SEM）是一種先進的科學儀器，用於獲取微觀水平上固體物體表面的圖像。這種顯微鏡具有獨特的能力，可以獲得比其他顯微鏡更大的深度、大小和細節的圖像。FEI XL 30是一種完全集成的透射掃描電子顯微鏡，是一種高度精密的技術。它是研究微觀尺度上的納米結構和截面特征的特別有力的工具。它結合了二次電子（SE）成像、信號電子（BE）成像、反向散射電子（BSE）成像等各種檢測系統。這使研究人員能夠測量樣本內的3D體系結構,了解內部特征,並區分精細的曲面細節。此外，這種顯微鏡的「BackScatter技術」允許以增強的3D分辨率對非常大的結構進行成像。飛利浦XL30 SEM配備了獨特的「Smartbeam™」系統，其中包括數字圖像處理器和控制系統，以提高圖像精度和對比度。這是通過電子束電流和電勢的自動調節來完成的。該系統還包括一個自動化的舞臺程序，允許樣品的多個旋轉位置，並進一步提高景深。此外，自動收集器限制器提供增強的對比度和降低的充電效果。PHILIPS/FEI XL30 SEM的試樣室設計為提供超低真空環境。這樣可以防止樣品損壞並提高圖像質量。再者，顯微鏡配備了多絲電子源，提供低電子能量和低加速電壓。這減少了電子束對樣品的損害。飛利浦XL 30 SEM是科學研究和工業的理想工具。它提供高分辨率、卓越的信噪比圖像質量和廣泛的成像功能。XL30 SEM是納米材料研究、微加工、故障分析和無損檢測等多種應用的理想選擇。