二手 PHILIPS / FEI XL 30 #293822403 待售
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ID: 293822403
Scanning Electron Microscope (SEM)
Power cabinet
EDAX controller
(2) Control computers
Small transformer
No wheels on either section.
PHILIPS/FEI XL 30掃描電子顯微鏡是一種高性能儀器,利用先進的電子束產生詳細的成像和分析能力。顯微鏡有一個列內能量色散X射線光譜儀(EDS),使用戶能夠在單個孤立的域中通過組合物的可視化來收集元素信息。顯微鏡還具有用於樣品表面分析的高分辨率反向散射電子探測器。FEI XL 30提供了一系列成像功能。顯微鏡的集成STEM(掃描透射電子顯微鏡)能力使得高分辨率成像與對比度增強。該平臺提供多角度STEM和額外的光譜成像能力,以改善特殊應用中的對比度。其內置的相關成像特征允許與集成日立TM-3000電子顯微鏡(SEM-FIB)進行不同樣品性質的相關研究,以觀察結構。飛利浦XL30提供多種分析技術。它的列內EDS設備能夠進行元素分析,並提供微觀層面的樣本映射。同時其柱內能量過濾系統也提高了能量分辨率。此外,它的集成能量損失光譜儀(EELS)記錄了關於單個電子結合能的精確信息,並有助於檢驗復雜分子。FEI XL30由並發映像模式驅動,該模式是一個基於Windows的平臺,允許收集非常大的數據集,而在映像步驟之間的延遲最小。這使得儀器的吞吐量和分析能力最大化,通過組合所有的成像模式。最後,XL30擁有一整套頂級配件,包括聚焦離子束(FIB),用於精確的樣品加工和微加工。它還有一個自動化的樣品處理裝置,用於收集大型和危險的樣品,使儀器的樣品負荷達到最大。PHILIPS/FEI XL30以極高的吞吐量提供了一整套成像和分析功能。它的列內EDS和EELS功能可以大大提高成分分析的準確性,而其自動化的樣品處理機則提供了更大的靈活性和可擴展性。
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