二手 PHILIPS / FEI XL 30 #293829560 待售

PHILIPS/FEI XL 30是一種最先進的掃描電子顯微鏡（SEM）。廣泛應用於材料科學、工程、生物、取證和納米技術等多種應用。這款SEM結合了電子顯微鏡中最受尊敬的兩個品牌FEI和PHILIPS的強項和能力。FEI XL 30設計有場發射電子柱，意味著它使用的是可以用電子充電的電子發射器，而不是典型的鎢絲，以非常低的能級發射電子。與傳統的SEM相比,這提高了精度、分辨率和對比度能力。使用PHILIPS XL30,用戶可以達到1納米以下的分辨率。XL30提供高分辨率圖像,盡管它是一個相對便宜但功能強大的SEM。它可以配置為各種掃描速率,範圍從0.4到600 Hz,從而實現更快的成像和分析。此外，它還提供了一個慣性透鏡系統，減少對樣品的充電效果，甚至進一步提高分辨率。XL 30還能夠檢測和成像弱二次電子，這對於某些應用來說是必不可少的，例如在納米級分析表面時。由於PHILIPS/FEI XL30配備了用於弱電子信號的檢測器，因此可以快速、輕松地生成圖像，以揭示納米級的表面結構或形態。PHILIPS XL 30還具有一系列功能,允許用戶輕松調整參數以獲取所需圖像。由於內置了特殊的通風系統，它可以在多種環境條件下使用，如低真空甚至高真空。由於真空是可調的，顯微鏡可以量身定制，以滿足任何特定應用的需要。此外,FEI XL30還配備了「極點零校正」功能,可用於減少或消除圖像中的任何失真或偽影。此功能可用於提高圖像的清晰度和分辨率,以及減少掃描過程中可能發生的任何偽影。它還減少了生成高質量圖像所需的時間,使用戶能夠快速高效地分析和解釋數據。綜上所述，PHILIPS/FEI XL 30對於那些以實惠的價格尋找高質量、精確的掃描電子顯微鏡的人來說是絕佳的選擇。它提供低至1納米的分辨率,使其適合各種應用,以及確保圖像質量和數據采集的一系列功能。