二手 PHILIPS / FEI XL 30 #9062875 待售

PHILIPS / FEI XL 30
ID: 9062875
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE SEM), parts machine.
PHILIPS/FEI XL 30是一種功能強大且用途廣泛的掃描電子顯微鏡(SEM),用於場發射(FE)和加速電壓(AV) SEM應用。是一款高端、高分辨率的SEM,配有一套全面的配件。FEI XL 30具有獨一無二的槍械控制系統,允許野外發射(FE)或加速電壓(AV)槍。場發射槍提供穩定的電源,並能夠達到高電子束功率,使得能夠進行精確的成像和分析。加速度電壓槍能夠在比FE槍更低的電子束能量下產生高分辨率圖像。飛利浦XL30的最大放大倍率為100,000倍,工作距離可達500微米。它配備了一個高分辨率、3軸采樣級,能夠進行倒置和向前觀察,以及對采樣的精確操作。PHILIPS XL 30具有一系列探測器的高靈敏度成像能力,包括集成的超低真空(ULV)探測器,並與多種探測器兼容。它還有一個大的探測器室,允許對各種樣本量進行成像。FEI XL 30的主要優勢在於它能夠獲取、存儲和分析大型數據集,這要歸功於高容量的數據存儲系統。它還包括為SEM成像和分析量身定制的各種軟件包,可實現自動數據采集和存儲。此外,XL30 SEM非常適合對各種樣品進行成像,包括具有小特征的樣品和具有低介電常數的樣品。它能夠成像非導電和困難的樣品,而不需要特殊的樣品制備。總體而言,PHILIPS/FEI XL30 SEM為各種樣品的成像和分析提供了強大的功能。它配備了廣泛的高級功能,允許精確和高度精確的成像和數據采集。
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