二手 PHILIPS / FEI XL 30 #9096263 待售

PHILIPS/FEI XL 30是一種掃描電子顯微鏡（SEM），用於多種材料表征和成像應用。FEI XL 30是一款高性能SEM，旨在提供高分辨率成像和材料的詳細分析。它配備了一個測角儀，可以對樣品取向進行精確的角度調節，以及一個自動轉換單元，以便快速和容易地轉換真空和/或液氮水平。SEM還配備了DualBeam設備,可同時提供SEM和聚焦離子束（FIB）成像功能。該系統配備了Everhart-Thornley探測器，允許從低電壓進行高分辨率成像，導致市場上任何其他SEM的漂移校正最低。該單元還具有自動圖像縫合功能,可輕松分析大型樣品,以及用於批量樣品的高分辨率半定量成像的數字X射線機。飛利浦XL30利用肖特基野戰發射槍（FEG）和加坦歐米茄UltraScan接口，提供高穩定性和分辨率。該工具還能夠進行局部成像，並配有重型底座，可用於樣品安裝和裝載。其5軸HV采樣級具有微電動機，使采樣操作更加精確。除樣品階段外，FEI XL30具有可變的斑點大小控制，提供精確的二次電子控制和等溫樣品溫度控制。除了其成像能力外，XL30還能夠利用先進的能量色散X射線光譜（EDS）進行化學成像。它還提供一系列高級功能,如快速和全自動導航、低真空樣品制備和成像以及薄膜沈積。XL 30具有出色的成像能力,是各種材料分析應用的可靠、精確的選擇。