二手 PHILIPS / FEI XL 30 #9193286 待售

ID: 9193286
Scanning electron microscope (SEM) Tungsten ESEM.
PHILIPS/FEI XL 30是一種高性能掃描電子顯微鏡(SEM),用於查看生物、化學、材料科學等多種樣品。它提供超高分辨率成像和清晰、精確的結果,可用於研究、分析和工業應用。FEI XL 30的電子槍中有一根鎢絲發射電子,然後高速掃描樣品。然後在微觀層面上與樣品相互作用,允許進行詳細觀察。它旨在通過最小化光束直徑來最小化輻射暴露和提高分辨率。PHILIPS XL30能夠實現高達0.1 nm的分辨率,並允許用戶觀察到小而復雜的結構和微粒,否則肉眼將看不到這些結構和微粒。它有一個大腔室,可以容納範圍廣泛的樣品,包括高密度材料和薄膜樣品,並且可以控制溫度、濕度和其他環境因素。SEM還帶有一個可調節的級,可根據需要傾斜、擡起和旋轉樣品以捕獲多個視圖。PHILIPS XL 30配備了實時記錄圖像的數碼攝像機,還有FEI版FEG顯微鏡等幾種軟件選項可供選擇,讓用戶獲得低差異衍射圖樣和表面增強的S/TEM圖像。此外,PHILIPS軟件還提供了一種稱為智能曲面輪廓的獨特功能,可增強圖像細節。XL30還具有其他一些高級功能,例如生成SE和BSE圖像以用於圖像分析的能力。它還有一個真空管理系統,以幫助降低用戶維護需求,以及一個觸摸屏控制,允許簡單操作與最低限度的培訓。它旨在為各種需求提供廣泛的應用,從日常工作到研究。總體而言,XL 30是一款非常有用且高效的SEM,它為所有類型的用戶提供了一系列功能。它的高分辨率成像、各種軟件工具和各種樣品掃描功能使其成為各種用途的理想選擇。
還沒有評論