二手 PHILIPS / FEI XL 30 #9193748 待售

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ID: 9193748
FEG Environmental scanning electron microscope (FEG-ESEM) Tungsten Detectors: CL BSE Plus.
PHILIPS/FEI XL 30是一種掃描電子顯微鏡(SEM),設計用於終極成像和分析。它是同類產品中最先進的,旨在提供高分辨率、高質量的成像結果。顯微鏡的先進設計為各種材料提供了廣泛的精確、可重復和可靠的成像結果,即使是受汙染的樣品也是如此。FEI XL 30配備了5kV X射線源、250毫米柱、9.3cm光學視場和30 kV的最大加速電壓。這種組分組合可以對樣品進行精確的高分辨率成像,同時最大限度地減少諸如氣壓、濕度和溫度等環境因素的影響。這種先進的顯微鏡具有可變壓力特征,即使有大量樣品也能確保最佳成像環境。PHILIPS XL30具有獨特的可變壓力控制系統(VPCS),可幫助創建最佳成像環境,同時考慮對樣品的環境影響。它還有一個特殊的自動聚焦系統,允許它專註於樣本中需要更多細節的部分。還提供了獨特的均勻照明,以確保每個圖像看起來幹凈、清晰和一致。PHILIPS XL 30具有內置的自動圖像捕獲系統,可實現自動化和連續成像。使用此功能,您可以立即從相同的樣本材料中生成各種圖像。它還配備了自動化的樣本階段控制,可以將樣本移動到視野上的特定區域。除了FEI XL30的高級成像功能外,它還采用先進的軟件進行設計。這使得管理和分析來自各種成像任務的數據變得更加容易。它配備了直觀的圖形用戶界面,使用戶可以在軟件內輕松處理、管理和訪問數據。XL30高效、經濟高效、可靠,是高級成像和分析的理想選擇。它非常適合那些在短時間內需要高質量圖像的用戶,以及那些需要最高級別的功能和準確性的用戶。
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