二手 PHILIPS / FEI XL 30 #9203026 待售

PHILIPS/FEI XL 30是一種掃描電子顯微鏡（SEM），設計用於高分辨率成像和樣品分析。它配備了鏡頭內二次電子（SE）探測器和場發射（FE）源。透鏡內檢測器使顯微鏡能夠獲取具有大景深的地形圖像，並在整個視野中產生優越的圖像。該場發射源由氙氣驅動，提供高亮度、低能量擴散和精確設置。鏡內發射和場發射的結合使得FEI XL 30成為研究用途的絕佳工具。顯微鏡裝有一個獨特的鏡頭內檢測器，可以在10、30和60 x三種不同的放大倍率下操作。這種高靈敏度檢測器具有低噪聲電平特性，可實現精確的SEM圖像采集。集成的SE信號放大器還允許顯微鏡生成同時具有灰色輪廓和陰影的樣品的SE圖像。FEI X-MaxSEM探測器配備了獲得專利的X-Tilt Technology，可實現3D成像和分析。結合高靈敏度探測器,PHILIPS XL30非常適合執行3D成像任務。由於SE探測器位於物鏡的後焦平面，它還提供了更快的掃描速度，從而減少了死機時間。飛利浦XL 30提供多種分析應用，包括能量色散X射線光譜（EDS）、電子反向散射衍射（EBSD）、陰極發光（CL）和電子能量損失光譜（EELS）。它還提供了先進的圖像處理能力，如明場、暗場和極化對比度。用戶友好的圖形用戶界面便於使用,用戶可以快速準確地獲得所需的圖像和數據。XL 30是需要可靠、快速、準確的優質SEM W實驗室儀器的研究人員和工程師的理想選擇。它提供了卓越的性能、用戶友好的操作和廣泛的高級分析能力的完美結合。它為幾乎任何樣品分析或成像應用提供了出色的結果。