二手 PHILIPS / FEI XL 30 #9236587 待售

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ID: 9236587
Scanning Electron Microscope (SEM) Operating system: Windows 3.1 Source: Tungsten hair pin type Vacuum system: Diffusion pump type Detector: SE and BSE Detector Auto stage option Missing parts: Diffusion pump system TMP and vacuum interface PCB SE-Detector unit Rotary pump PC System.
PHILIPS/FEI XL 30是由FEI公司生產的掃描電子顯微鏡(SEM)。這種SEM模型是一種二次電子顯微鏡,優化用於操作,具有廣泛的樣品、尺寸和材料。它能夠通過使用聚焦在樣品上的電子束產生物體的高分辨率3D圖像。FEI XL 30以成像物體的精確度和精確度著稱,部分原因在於將環境能力與數字成像和控制設備相結合的設計。該系統允許在設置顯微鏡和捕獲圖像方面進行高度控制。PHILIPS XL30的x-y級可以在任一方向上移動至175mm,最高速度為50mm/s。它還有一個可變壓力室,用於控制觀看樣品的環境,可以在兩六千帕斯卡之間進行調整。功率增壓器提供了從10KV到30KV的加速電壓,允許各種操作條件。該單元還配備了一個自動化的舞臺控制器,允許舞臺的自動移動。這可以由用戶調節,顯微鏡有一個自動樣品平衡機,隨時保持樣品表面水平。顯微鏡的主要成像工具是由二次電子探測器組成,它在顯微鏡產生的圖像中提供高水平的對比度。資產的其他特點是它的集成閃爍器和它的可調壓力傳感器,它允許用戶監測樣品室的壓力。FEI XL30還配備了掃描轉換器,將傳入的電子束轉換成數字信號,使圖像可以在計算機監視器上顯示。此外,該模型還配備了一個自動顯微鏡成像註射控制,允許在長達五秒的自相關時間尺度上成像。這種SEM模型非常適合廣泛的應用,從教育和研究目的到工業目的。其環境控制功能、成像精度、靈敏度和自動化選項使其成為來自不同背景的用戶的可靠選擇。
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