二手 PHILIPS / FEI XL 30 #9243798 待售

FEI XL 30掃描電子顯微鏡（SEM）是一種高功率、大視野的掃描電子顯微鏡，設計用於材料的高性能成像和分析。SEM的特點是一個大的試樣室，放大幅度在4X和30X之間，工作距離延長。這使得在x-y-z方向上高達256mm的樣品可以被精確檢查。它還具有內置能量濾波器的列內肖特基場發射槍（FEG）電子源。這允許明亮的高對比度成像，減少色差。FEG電子槍使用壽命長，隨時間推移保證性能穩定。此外,PHILIPS/FEI XL 30還配備了數字信號處理器（DSP）,可實現高級成像應用。此SEM的高級詳細信息功能允許在標準樣品上對高達0.04 nm的特征進行精確成像。自動傾斜和聚焦觀測功能提供出色的表面形態成像以及橫截面分析。通過結合高端偏光物鏡和自動消色差校正,進一步增強了高分辨率成像。FEI XL 30先進的分析測量能力，具有精確的低壓光譜，從0.1%到100%的全元素識別，對原子層面的化學成分進行先進的定性和定量分析。它具有從EDX和WDX到EBSD、Backscatter和Brightfield的廣泛的可用檢測器。整個SEM系統通過直觀的圖形用戶界面進行操作，使實驗操作和參數化變得容易。此外,內置自動化還通過部分或完全自動化流程,確保了一致且可重復的操作。飛利浦XL30是一種先進的掃描電子顯微鏡，非常適合高端成像、分析和研究。它實現了納米級的精確成像,而高級自動化功能確保了可重復操作和一致的結果。