二手 PHILIPS / FEI XL 30 #9245876 待售

ID: 9245876
優質的: 2000
FEG Scanning Electron Microscope (FEG SEM) Stage size: 2" Motor stage With electronics Operating system: Windows NT Computer included No nano-manipulators 2000 vintage.
PHILIPS/FEI XL 30是一款高端掃描電子顯微鏡(SEM)。它是同級車型中最先進的車型之一,能夠提供高分辨率和靈敏度的優秀影像。FEI XL 30擁有令人印象深刻的視野,允許對小至5納米的特性進行成像。高分辨率成像是通過使用冷場發射源、超高真空穩定性和多種樣品制備技術的獨特組合而實現的。PHILIPS XL30具有球形設計,帶有容納顯微鏡主要部件的腔室。這包括冷場發射槍、5軸精密級和掃描電子槍。冷場發射槍產生電子,然後將電子對準樣品表面。掃描電子槍用於測量產生的電子,由精密步進電機控制。這樣就產生了高達15KV束能量的高分辨率成像。飛利浦XL 30的5軸級為操作員提供了出色的標本操作和分析階段控制。這樣可以準確控制樣品的漂移和傾斜,從而實現最高級別的成像。與5軸級一起的是一個標本滑動架或ESEM架,可用於標本的制備和檢驗。ESEM固定器支持真空和空氣模式的樣品安裝。XL 30有一系列可互換的鏡頭和探測器,允許廣泛的成像技術,如SEM、ESEM、BSE、EDX和EBSD。通過使用專用模塊,顯微鏡可用於分析材料組成、地形、表面粗糙度等特征。此外,顯微鏡還配備了電腦化的觸摸屏控制系統,便於操作。總體而言,XL30是一種高度先進的掃描電子顯微鏡,是尋求進行納米級研究的實驗室的絕佳選擇。它的高級功能結合了詳細的圖像、精確的測量和多種技術功能,使其成為任何高端實驗室所必需的。
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