二手 PHILIPS / FEI XL 30 #9257598 待售

PHILIPS/FEI XL 30掃描電子顯微鏡是一種先進的實驗室儀器，可以讓研究人員以前所未有的精確度和細節研究原子和納米級的材料結構。顯微鏡的主要特征包括場發射電子源、高分辨率成像能力、自動化樣品處理和階段定位，以及在多種材料中進行廣泛實驗的能力。場發射電子源產生聚焦的電子束，可以掃描整個樣品表面。這使用戶能夠以小於1埃（0.1納米）的分辨率生成樣品材料結構的圖像。它還允許進行能量色散X射線分析（EDX）和能量過濾成像（EFI）等實驗。顯微鏡的自動化樣品處理和舞臺定位，使樣品的定位高效無誤，使用戶能夠精確搜索特征。除了提供高分辨率成像外，FEI XL 30還可以對材料進行廣泛的實驗。可以進行電子束感應電流（EBIC）和電子反向散射分析（EBSA）等實驗，研究一種材料在原子水平上的電學和光學性質。顯微鏡還提供了合並外部探測器如離子和電子束混合探測器的選項，這些探測器可用於實時測量材料的性質。飛利浦XL30掃描電子顯微鏡為用戶在研究生物和無機材料時提供了無與倫比的精確度和細節。它具有高分辨率的成像能力、自動化的樣品處理能力以及進行廣泛實驗的能力，使得它成為任何實驗室研究納米級和原子級材料特性的有力儀器。