二手 PHILIPS / FEI XL 30 #9259822 待售

PHILIPS/FEI XL 30是一種掃描電子顯微鏡（SEM），為納米級樣品的微觀成像和分析提供了強大的工具。FEI XL 30具有高分辨率成像能力，分辨率低至0.3納米，同時檢測三種成像方式：二次電子、反向散射電子和X射線光譜。飛利浦XL30是一個大型和多用途的儀器，具有令人印象深刻的一系列特點和能力。它提供半自動化功能,並具有符合人體工程學和用戶友好的WORKPLACE環境,使用戶能夠高效工作。該系統配備了最新的掃描增強預對準（SAP）樣品定位技術，可實現快速準確的可重復位置設置。FEI XL30內置的單色儀具有3極構型，產生的電子束均勻照射，沒有可見的昏迷像差，確保了最佳成像條件。超分辨率特征允許增強對納米級精細結構的檢測。PHILIPS/FEI XL30提供的SEM-EDS探測器能夠同時從多個帶電粒子獲取信息，從而能夠檢測元素周期表上的低至鎂（9）的元素。它有一個完全集成的采集和分析軟件包，允許沒有外部軟件包的高級數據處理。XL30利用TrueDepth™和TrueContrast™技術來增加景深，提供更好的對比度和分辨率。雙絲電子源可以擴展動態範圍和提高穩定性,而成像系統的校正功能減少了校正消磁位置或電流/電壓設置時的時間和手動工作。總之,PHILIPS XL 30是一款功能強大的SEM,旨在提供前所未有的研究和行業成像能力。它提供了一系列令人印象深刻的特性、技術和能力，並根據科學家和工業工程師的需要量身定制了人體工程學設計。XL 30具有先進的功能和廣泛的功能,為表面分析和成像提供了全面的儀器選擇。