二手 PHILIPS / FEI XL 30 #9260099 待售
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已售出
ID: 9260099
優質的: 2001
Environmental Scanning Electron Microscope (ESEM)
Magnification: 100x to 100,000x
PELTIER Cooled specimen stage between -5°C and +60°C
Equipped with:
SE and BSE detectors
High and low (ESEM) vacuum modes
Imaging capabilities:
Secondary Electron (SE) detector for imaging under high-vacuum
Backscattered Electron (BSE) detector for imaging under high-vacuum
Large Field Detector (LFD) used between 0.1 and 1.0 torr to detect BSE and SE signals at low accelerating voltage
Gaseous Secondary Electron Detector (GSED) allows SE detection at up to 20 torr
Wide angle GSED allows SE imaging at up to 10 torr
Standard Secondary Electron (ESD) detector contains a 500 µm aperture for imaging up to 20 torr
Standard / Wide angle X-ray ESD has a working distance of 10 mm
Gaseous BackScattered Electron (GBSD) Detector allows BSE, SE, or BSE+SE imaging up to 10 torr using 500 µm aperture
Stage can accommodate
(7) 0.25" SEM stubs
(3) 1" SEM stubs
(2) Standard-sized petrographic thin sections
2001 vintage.
PHILIPS/FEI XL 30是一種掃描電子顯微鏡（SEM），廣泛用於工業、制造和科學實驗室。它是一種功能強大的儀器，可以放大對象多達30萬次或更多次，讓用戶看到正在檢查的樣本的復雜細節。它是一個雙束系統，意味著有兩個電子束，一個用於獲取高分辨率圖像，另一個用於樣品的束納米穿透。成像系統圍繞一個鎢場發射源，用於產生高能電子束。然後這些電子在到達樣品之前使用磁體和靜電透鏡的組合聚焦。標本放置在真空室中進行分析，在觀察屏幕上以各種放大倍數觀看。SEM利用樣品中的二次電子形成一個圖像，然後可以進行非常詳細的分析。FEI XL 30顯微鏡的成像能力還包括反向散射電子成像、掃描透射電子顯微鏡（STEM）、陰極發光和電子束感應電流成像等特征。這為研究人員提供了成像和分析一系列樣本特征的能力。電子束是高度可控的，光斑大小小至0.2nm，可調束電流和加速電壓，自動取樣映射。標本級具有三個運動軸，允許精確定位，高放大能力通過顯微鏡的數字讀出得到增強。另外，各種探測器可用於電子分析，包括能量色散X射線（EDX）和波長色散X射線（WDS）。PHILIPS XL30是一種可靠、精密的儀器,能夠生成詳細的圖像並分析各種材料和組件。PHILIPS XL 30的魯棒性和功能範圍使其成為電子顯微鏡應用的絕佳選擇。
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