二手 PHILIPS / FEI XL 30 #9276335 待售

PHILIPS/FEI XL 30是一種掃描電子顯微鏡（SEM），提供材料研究和生命科學應用所必需的成像和分析能力。SEM使用聚焦電子束生成小結構的圖像，允許以0.8納米的最大分辨率放大材料表面的視圖。高水平的電子光校正技術大大增強了顯微鏡的成像能力，使其成為納米級成像和分析的理想工具。FEI XL 30的特點是電子源在200-30KV操作,500-300KV可選,允許最大樣品高度為5 cm,最小樣品高度為5 nm。這種高分辨率和長的工作距離允許觀察形狀不規則的大型物體，而無需更換鏡片。顯微鏡還具有透鏡內二次電子檢測器和反向散射電子檢測器，以給出不同密度材料之間的高對比度。PHILIPS XL30還配備了多種可進行一系列實驗和成像能力的探測器和探測器，其中一些包括：用於元素分析的能量色散光譜（EDS）、用於表面分析的波長色散光譜（WDS）和用於地形成像的反向散射電子探測器（BSD）。高分辨率直接電子探測器也可用於晶體學成像。顯微鏡還可用於二次電子成像（SEI）、反向散射成像（BSI）和差分幹涉對比度成像（DIC）。一套數據采集、成像和分析軟件進一步增強了PHILIPS/FEI XL30的可視化能力。此軟件使用戶能夠獲取圖像、執行定量測量以及輕松訪問數據以便發布或與其他SEM進行比較。XL30是納米技術、材料科學、地質、環境科學、生命科學和法醫學等多種研究的理想SEM。它具有很高的靈敏度和分辨率，是一種獨特的工具，可以用來檢查低放大倍數下看不見的材料和工藝。它也是工業和教育環境中質量控制的絕佳選擇。