二手 PHILIPS / FEI XL 30 #9280521 待售

PHILIPS/FEI XL 30是一種高性能掃描電子顯微鏡（SEM），設計用於納米科學和納米技術的廣泛應用。它的小樣本室、低能量操作和增強的成像能力使其特別適合於非常小樣品的低壓、高分辨率成像。FEI XL 30利用先進的電子源設計和為超低電子電壓設計的電子柱，非常適合獲取非常小樣品的高分辨率圖像。高光學系統為小特征和納米結構提供了極好的光斑分辨率。它還包括一個最先進的數字成像/光學系統。內置的纖溶光學陣列使PHILIPS XL30能夠在高壓和低真空範圍內以近原子分辨率對樣品進行成像。此外,XL 30還配備了廣泛的用於特殊應用的探測器。可伸縮的反向散射探測器提供了樣本中地形和元素特征的清晰、對比圖像。一種能量色散X射線光譜儀（EDS）可用於高級元素分析。此外，PHILIPS/FEI XL30包括一個場發射探測器，可以在低真空和超低真空範圍內以高放大倍數運行，為圖像提供次Ångström分辨率。PHILIPS XL 30還提供了廣泛的自動化功能,使其操作簡單快捷。自動映射功能提供復雜的功率和電壓控制,以產生廣泛的圖像對比度。自動漂移抑制系統可消除漂移偽影,並提供更清晰的圖像。自動化的例行操作使樣品準備和分析更加容易,有助於最大限度地提高生產效率並最大程度地減少用戶疲勞。最後,XL30是一個可靠、功能齊全的SEM平臺。其模塊化設計和量身定制的電子產品減少了維護和維修的需要。其低真空操作可確保減少樣品降解和汙染。這些特性使FEI XL30納米級成像、能量色散X射線光譜和其他先進應用的可靠選擇。