二手 PHILIPS / FEI XL 30 #9284171 待售

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ID: 9284171
Scanning Electron Microscope (SEM) SE2 Detector Diffusion pump Tungsten source.
PHILIPS/FEI XL 30是一種高分辨率掃描電子顯微鏡(SEM),利用高壓電子掃描材料表面,產生其地形、形態和元素組成的圖像。此型號具有高分辨率成像和高速操作的高性能。FEI XL 30擁有令人印象深刻的高棕色分辨率平板顯示屏,為操作員提供了他們標本的清晰圖像。它具有快速獲取和保存圖像的能力,包括具有彩色叠加的圖像,這些圖像提供了詳細的輪廓和元素組合圖像以進行分析。此外,圖像直接投影到計算機屏幕上,以獲得最大的通用性。飛利浦XL30還提供了一系列令人印象深刻的自動化功能,從全自動傾斜/提升對準和樣品表面定位到自動漂移校正。它還具有專用的光束偏轉器和用於改變圖像分辨率的聚焦表盤。集成的robolab設備允許選擇預定的實驗,允許自動化的處理和分析。在操作能力方面,飛利浦XL 30具有廣泛的掃描選項,從低真空到組合系統中的超高分辨率。它還具有強大的相位對比度成像模式,提供相位對比度和晶粒對比度以及對焦,以最大限度地提高圖像細節。此外,XL30有一個可調的光束電壓,可以快速和精確地調整給用戶,以方便更好的儀器操作。為了提高性能,PHILIPS/FEI XL30提供了一個先進的環境控制單元,可調節濕度、溫度和氣體壓力以最大限度地提高性能。該模型還包括一個先進的過濾系統,以減少到達樣品的汙染物和碎屑的數量,以及噪聲吸收框架地板以減少振動。在安全性方面,FEI XL30有一個標本室的安全互鎖單元,設計用於在運動時關閉電子束。還有一個過載電流保護機器,用來保護周圍的結構和組件免受過壓。此外,XL 30還有一個軟沖擊制動工具,它允許電子束立即關閉,從而最大限度地減少對樣品的任何潛在損害。
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