二手 PHILIPS / FEI XL 30 #9300327 待售

PHILIPS/FEI XL 30掃描電子顯微鏡（SEM）是一種功能強大的研究工具,用於分析各種樣品的地形、電氣和化學特性。FEI XL 30設計用於分析研究、行業和教育環境。顯微鏡的中心成分是電子柱，它包含了控制光束並產生圖像的透鏡、偏轉器和磁場。飛利浦XL30柱能夠產生直徑小於一納米的光斑大小的聚焦光束。電子束由電子源產生，並由一系列存在於柱內的光圈、透鏡和偏轉器所引導。這使得顯微鏡可以在0.3 nm到500 nm的範圍內聚焦和成像。在真空室內觀察樣品。為了保護樣品和柱組件，必須在腔室保持5 x 10-7 mbar的壓力。試樣安裝在導電試樣架上，該試樣架放置在腔內。SEM成像系統具有檢測二次電子和反向散射電子的能力，以及高分辨率衍射。XL30提供的主要成像模式是高分辨率二次電子模式、二次和反向散射電子模式、低真空模式和螺旋電子光譜。顯微鏡還具有分析表面地形和元素組成的全部光譜能力。一臺CCD陣列為2048 x 2048像素的電荷耦合器件（CCD）相機可以連接到顯微鏡上，以便獲得數字圖像。PHILIPS/FEI XL30是一種用途非常廣泛的機器，能夠產生一系列信號，如差分幹涉對比度（DIC）、能量色散X射線（EDX）、X射線微光譜（X-RayMS）、陰極發光（CL）和光元素差分成像（LEDI I）。總之，XL 30掃描電子顯微鏡是一種強大、功能強大的成像分析工具。PHILIPS XL 30加上其全方位的成像、光譜和分析能力，為廣泛的應用提供了強大的研究平臺。