二手 PHILIPS / FEI XL 30 #9302348 待售

PHILIPS/FEI XL 30掃描電子顯微鏡（SEM）是一種先進的電子顯微鏡，用於成像和測量一系列樣品的結構和地形。它結合了電子光學和掃描電子顯微鏡的最新技術，為用戶提供了無與倫比的成像性能、準確性和分辨率。該儀器利用了一種高能電子源，其加速電壓範圍在0.1-30千伏之間，從而實現了廣泛的應用。它與高分辨率、現場發射SEM相結合,其放大倍率範圍高達70.000x。FEI XL 30還提供多種影像選項。用戶可以選擇使用鏡頭內檢測設備，該設備具有快速的數字延遲發生器和多功能放大器，也可以選擇二次電子或反向散射電子探測器。針對非導電或薄表面樣品的成像對二次電子檢測器進行了優化。反向散射電子探測器是較厚的非導電樣品成像的理想選擇。此外,PHILIPS XL30提供了一系列自動化功能,例如全自動樣品定位、樣品定向和舞臺移動,以及全自動自動化低真空泵送系統。這樣可以實現更快的成像標準,以及更快、更可重復的產量。還可以通過使用智能圖像處理單元（IIPS）實現全自動數據采集。這臺機器可以實時分析和捕捉來自SEM的圖像，從而獲得更高效的結果。總體而言,PHILIPS/FEI XL30是一款功能強大且用途廣泛的掃描電子顯微鏡,可為用戶提供前所未有的成像性能、準確性和分辨率。XL 30具有一系列自動化選項和高端成像功能,對於希望捕捉和分析一系列樣品的結構、形式和地形的用戶來說,它是一個理想的選擇。