二手 PHILIPS / FEI XL 30 #9396739 待售

PHILIPS/FEI XL 30掃描電子顯微鏡（SEM）是一種用於材料和樣品成像分析的場發射SEM。FEI XL 30可以獲得3-5納米分辨率的樣品圖像，使其成為基礎研究、半導體和生命科學應用的理想工具。飛利浦XL30具有一個冷場發射電子源，而不是熱電子源，它在更廣泛的加速電壓範圍內增加電子束的相幹性、亮度和穩定性。這種較高的源亮度有助於通過檢測低強度信號來提高儀器的分辨率。飛利浦XL 30配備了高性能的反向散射檢測器系統，能夠獲取以前無法訪問的材料分析數據。該系統可實現常規和像差校正成像。它還包括兩個帶電二次電子探測器，允許同時成像地形和表面結構。此外,XL 30還包括高級圖像處理和分析功能。自動圖像優化功能有助於實現最佳圖像質量,而自動居中級可以與多個z軸級和操縱器接口,從而提供一系列運動。在樣品處理方面，PHILIPS/FEI XL30配備了廣泛的樣品持有者和階段。其中包括從高真空樣品機械手到低溫成像的冷凍支架。此外,FEI XL30利用自動化環境控制提供一系列環境條件。最後,XL30提供了一系列安全功能,包括增強的腔室防輻射罩、機械隔振和自動級防撞系統。總體而言,PHILIPS/FEI XL 30是電子顯微鏡的理想平臺,具有最先進的特性和性能。FEI XL 30結合了先進的成像能力、樣本階段和安全特性,成為一種理想的發現和研究儀器。