二手 PHILIPS / FEI XL 30 #9398344 待售
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ID: 9398344
優質的: 1998
Scanning Electron Microscope (SEM)
Tungsten
Camera options: SE, BSE, CCD, IR
EDS SiLi EDAX manual stage: 10 mm
Diffusion pump
ODP Diffusion stack
High vacuum mode conventional
Everhart-Thornley detector
With variable grid bias
Back Scattered Electron Detector (BSED)
Turbo molecular pumping system
End pressure: < 5.10-4 Pa (< 5.10-6 mBar)
EDWARDS Pre-vacuum rotary pump
Penning gauge standard
ThermoFlex recirculating water chiller
Electron source tungsten gun
Voltage: 500 V to 30 kV
Maximum beam current: >1 to µA
Resolution: 3.5 nm at 30 kV
Focus range: 3 mm to 99 mm
Range: 20x to > 500,000x
Manual stages:
X - Y: 50 mm
Z: 25 mm x 25 mm
Tilt range: 75°C to 15°C (Manual)
Rotation: n x 3600
Eucentric tilt at AWD: 10 mm
Single stub holder
Operating system: Microsoft Windows NT
1998 vintage.
PHILIPS/FEI XL 30是一種高性能掃描電子顯微鏡（SEM），設計用於精確成像和材料分析。它是為處理具有挑戰性的任務而設計的，具有很高的精度和速度。該單元配備了先進的電子槍和在廣泛應用中提供卓越性能和分辨率的可調透鏡設備。FEI XL 30設計用於在較大的成像區域上精確聚焦和檢測電子。高質量的成像能力因系統在從低功率到高功率的多個電子源之間切換的能力而進一步增強。主鏡頭單元由高分辨率輔助鏡頭機支撐，用於包含小功能。該單元包括用於測量低至一微米或更小特征的高端探測器。利用高性能的磷光和二次電子探測器，該單元可以提供從亞微米範圍到宏觀水平的材料的詳細圖像。此外，一系列探測器和光譜工具可用於SEM-EDX、STEM-EDX和EDS分析。PHILIPS XL30配備了精確的自動化標本級，以確保樣品的一致和快速移動。該階段的設計易於調整，能夠長期收集數據。由於舞臺是XY驅動和傾斜的，各種標本取向可以輕松實現。還可以通過調整可自動調節的較低源對樣品間隙來調整樣品的放大倍率。PHILIPS XL 30支持多種操作模式，使用戶能夠研究各種材料和結構。其中有二次電子成像（SEI）、反向散射電子成像（BEI）、電子反向散射衍射（EBSD）和陰極發光（CL）。加上EDS的附加功能，該單元能夠在亞微米級進行成分分析和映射。綜上所述,PHILIPS/FEI XL30是一款用途廣泛、功能強大的SEM,旨在提供準確的成像、材料分析和成分映射。該單元配備了先進的電子源和探測器，多種分析工具和自動化的標本級，以確保更容易和更有成效的結果。
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