二手 PHILIPS / FEI XL 30 #9408620 待售

ID: 9408620
Scanning Electron Microscope (SEM) Chamber Tungsten source No EDX.
PHILIPS/FEI XL 30是一種掃描電子顯微鏡(SEM),包括大視野、快速掃描速度和高分辨率成像能力。FEI XL 30設計用於研究和工業應用。其先進的電子光學和新的成像技術使其能夠顯著提高原始數據質量。顯微鏡的大視野提供了一個前所未有的細節水平標準SEMs不可用。例如,與手動剖分相比,它可以輕松生成以前從未見過的對象的橫截面,成本僅為成本的一小部分。它還能夠快速掃描,掃描速度高於同類中的任何其他SEM。飛利浦XL30的成像能力因其尖端的電子光學而得到增強。改進型的維恩濾波器即使在近光束能量下也能保證出色的圖像分辨率。這就產生了令人印象深刻的景深和非凡的聚焦深度。真空穩定度也由一種專利的二次電子抑制器(SES)提供,它可以在使用過程中即時調整到新的真空條件。此外,XL 30被設計為易於使用。它的用戶界面包括對新用戶有用的提示和提示,以及自動圖像處理功能。還提供了電場映射、自動邊緣檢測和表面地形測量,以增強樣品分析。總之,PHILIPS/FEI XL30是一款功能強大且用途廣泛的SEM,在圖像分辨率、速度和視野方面提供無與倫比的性能。其先進的光學、直觀的用戶界面和自動化功能使其成為研究和工業應用的理想工具。
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