二手 PHILIPS / FEI XL 30S #293674765 待售

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ID: 293674765
Field Emission Gun Scanning Electron Microscope (FEG-SEM) SE Detector BSE Detector UHR SE (TLD) Detector EDAX EDX Detector Main board card non-functional.
PHILIPS/FEI XL 30S是一款多功能掃描電子顯微鏡(SEM),具有高性能、能力和成本效益的獨特組合。其廣泛的功能和用戶友好的設計使其成為工業、學術界和研究領域的熱門選擇。這種先進的SEM設備是為優化成像和晶體定向體驗而設計的。它配置了4軸光學系統,可提供高達18 kV的光束放大倍率和10 nm的分辨率功能。該裝置采用高壓自動碳樣品裝載機,可快速可靠地裝載樣品材料。FEI XL30S的其他令人印象深刻的特點包括用於樣品階段的自動對準工具、內置的Brucker/Sargent樣品更換器以及用於分析低kV樣品的低真空樣品支架。樣品儲存器具有較大的工作面積,設計為最大限度地提高吞吐量。飛利浦XL 30 S設計為在低kV環境下運行,在10 kV時高達12 nm的高圖像分辨率。這是通過使用高強度、數字圖像處理算法和高動態範圍對比度來實現的。它還具有高性能、低振動、低剛度結構的電動舞臺。先進的FEI XL 30S資產配備了E-Z數據采集軟件和E-Z分析軟件,用於增強圖像分析和報告體驗。E-Z數據采集套件包括用於圖像處理、微觀結構分析、紋理測量和元素組成確定的軟件。該模型是為廣泛的應用而設計的。它的多功能性和易用性使其適合於各種市場的成像和晶體取向研究,包括工業材料、半導體基板、塗料和冶金。總體而言,XL30S是尋找高級高性能SEM功能的實驗室和研究機構的理想選擇。高分辨率成像具有快速通量,是快速分析和更詳細分析樣品的理想選擇。
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