二手 PHILIPS / FEI XL 40 #293610598 待售
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ID: 293610598
Scanning Electron Microscope (SEM)
Tungsten source
Feed through
EBIC
Pump
SED
PC.
PHILIPS/FEI XL 40是一款先進的掃描電子顯微鏡(SEM),旨在為用戶提供強大可靠的掃描能力。這種最先進的顯微鏡能夠提供高達25,000倍的放大倍數,分辨率超過1nm。它還提供了一個大的視野,並為用戶提供了在納米大小的樣品中發生的過程的實時觀測。FEI XL 40裝有野戰發射槍,容許近光電流和高電流密度,使得更高的精度和分辨率。此SEM還具有一個主電子檢測器(PE/SEC)列,允許用戶在數據收集和成像模式之間快速切換,從而提高了效率。此外,PHILIPS XL-40包括一個反向散射檢測器,允許用戶識別樣品中的不同材料,以及一個用於元素分析的能量色散X射線檢測器(EDS)。PHILIPS/FEI XL-40還具有高品質的平板顯示器和六軸機動化功能,為用戶提供自動化的樣品掃描。PHILIPS XL 40旨在與像差校正後的EM兼容,允許用戶以改進的分辨率和清晰度觀察和拍攝樣本。該系統還配備了Stage Autofocus,它允許圖像在舞臺跨多個軸旋轉時保持聚焦。XL-40是一種高級SEM,旨在為用戶提供最大的掃描能力和分辨率。它具有像差校正、EDX、高分辨率成像和樣品掃描等先進功能,是研究、制造和學術應用的理想選擇。
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