二手 PHILIPS / FEI XL 40 #293627438 待售

PHILIPS/FEI XL 40是第二代掃描電子顯微鏡（SEM），專為多種應用而設計。它提供了一系列的高分辨率成像功能，可用於在原子層面上可視化樣品。SEM由幾個關鍵組件組成,能夠實現高達400,000倍的放大倍數。FEI XL 40的核心是它的電子槍。槍產生一束電子束，向樣品加速，到達樣品時，束與樣品之間的相互作用產生信號。這一過程被稱為二次電子發射，產生灰度圖像，揭示樣品的特征，分辨率高達1納米。PHILIPS XL-40還包含一個高分辨率的柱內色差和球差校正器。此校正器允許從不同角度同時成像和分析樣品，並減少可能導致圖像解釋不正確的不良像差。飛利浦XL 40搭載AutoTune技術，是FEI獨有的。這項技術使SEM能夠輕松操作,即使沒有經驗的技術人員也是如此。這項技術使用戶控制的多點優化成為可能,從而能夠更快地進行分析並提高成像性能。FEI XL-40包含了一系列其他功能,包括掃描點大小為10nm、10 nm光譜範圍為EDS和低kV冷卻。這些功能允許SEM從示例中收集最大數量的有用數據。為了幫助用戶解釋數據，PHILIPS/FEI XL-40配備了一系列分析技術，包括EDS（能量色散光譜）和WDS（波長色散光譜）。利用這些技術，可以對樣品進行詳細的元素分析。總體而言,XL 40是適用於各種應用的出色SEM。它的自動化能力、高分辨率成像能力和一系列分析技術使它能夠生成原子級樣品的詳細信息。