二手 PHILIPS / FEI XL 40 #293650347 待售

PHILIPS/FEI XL 40是一種掃描電子顯微鏡（SEM），用於一系列材料的詳細分析。它具有可變壓力模式，使用戶能夠控制室內的壓力，這對於生物物質等易碎樣品的成像很重要。場發射源和特殊的Everhart-Thornley氣體探測器的結合，使得顯微鏡在各種條件下運行，並得益於較大的聚焦深度來傳遞極高分辨率的圖像。這款顯微鏡的特殊之處在於它能夠在三維模式下工作，允許用戶構建和操縱組件和納米結構的高度詳細的3D重建。顯微鏡配備了集成的高功率EDS（Energy Dispersive X-ray Spectrometry）檢測器，可以同時對樣品進行元素分析。EDS探測器進一步與快速自動化的樣品加載系統集成在一起，以便於獲得組件的完整映射。這些特征的組合產生了多方面的分析能力，使人們能夠很好地了解樣本的組成。FEI XL 40還配備了鏡頭內檢測器，可實現更好的對比度和成像分辨率。鏡頭內檢測器采用獨特的低kV平臺調制電子束的電荷，以增加圖像中的對比度，提高分辨率。這一特征與鏡頭內自動掃描系統相結合，使得這種顯微鏡非常適合捕捉各種材料中最高層次的細節。PHILIPS XL-40構建在易於升級的開放平臺上,旨在滿足最苛刻的要求。它的設計符合人體工程學，並且可以快速、方便地組裝和操作，而且只需經過最少的培訓。在監控方面,PHILIPS/FEI XL-40配備了直觀的用戶界面,可實現簡單、功能豐富的可操作性。綜上所述，FEI XL-40是一種功能強大、可靠的掃描電子顯微鏡，專門為詳細分析各種材料而設計。由於其創新的技術特點，它能夠提供極高分辨率的成像和同時元素分析。它還具有很高的可控性和直觀的可操作性，使其成為各種用戶的理想選擇。