二手 PHILIPS / FEI XL 40 #293659624 待售

PHILIPS/FEI XL 40掃描電子顯微鏡（SEM）是一種先進的分析工具，設計用於優越的信號分辨率和基於分辨率的成像。此顯微鏡具有多種特性,包括高精度定位和自動樣品處理,非常適合樣品表征、結構分析和高級成像。SEM通過使用聚焦電子束從樣品表面激發二次電子來運作。這些被SEM檢測和放大的二次電子允許對樣品進行到原子水平的成像。這種技術允許在其他顯微鏡技術中無與倫比的分辨率。FEI XL 40配備了一個擴展的鑲嵌檢測器，允許在三個維度上觀測樣品。該探測器提供了與核心級照片相當的圖像對比度和清晰度。此外，PHILIPS XL-40還有一個可選的低真空系統，可以在不帶樣品充電的情況下進行成像，從而能夠研究電敏材料。顯微鏡還具有電子聚焦和聚焦漂移補償調節功能,可確保樣品保持在銳焦狀態,以及高效的樣品制備和自動化的樣品階段移動。所有這些功能使PHILIPS XL 40成為市場上最先進的SEM之一。XL 40旨在為任何應用程序提供無與倫比的性能和可靠性。此SEM具有一系列的功能、精確的定位和自動化的樣品處理功能,是需要卓越分辨率和成像的應用程序的理想選擇。對於追求樣品分析卓越的組織來說，XL-40是完美的掃描電子顯微鏡。