二手 PHILIPS / FEI XL 40 #293665913 待售

PHILIPS/FEI XL 40掃描電子顯微鏡（SEM）是精密工程和材料科學應用的可靠通用工具。它配備了一個強大的電子束，可以產生高分辨率圖像的樣品放大到70,000X。FEI XL 40非常適合成像薄而易碎的樣品，如2D材料，可用於有效分析多種材料的表面，包括金屬和半導體。PHILIPS XL-40由EcoPlane超高真空（UHV）室提供動力,該室保持一個清潔、高真空的環境,這是產生高質量圖像所必需的。該腔室的平均故障間隔時間為10,000小時（MTBF）,可確保長期的可靠性和準確性。此外,還主動測量和自動校正圖像分辨率,以確保隨著時間的推移始終保持準確的結果。FEI XL-40還有一個機動化的舞臺，可以容納更大、更重的樣品，並且可以用操縱桿控制，以便精確和易於操作。為了能夠快速準確地測量樣品，XL-40配備了一套專門的特征分析和數據采集軟件。數字圖像捕獲能夠保存圖像以供進一步分析,PHILIPS XL 40可以輕松導入和導出圖像。此外,該軟件還可用於自動樣本控制、自動圖像對齊以及創建元素圖,以顯示樣品表面上的圖樣組成。XL 40能夠產生多種圖像，包括次級和反向散射電子、陰極發光、X射線圖和元素圖。這種多功能性使得它可以被廣泛的應用，從半導體器件的檢查和成像到研究陶瓷和金屬表面。PHILIPS/FEI XL-40對樣品進行細致的處理和分析,為深入了解各種材料和微觀結構打開了大門。