二手 PHILIPS / FEI XL 40 #293763396 待售

PHILIPS/FEI XL 40是一款最先進的掃描電子顯微鏡（SEM），功能非凡。它用於檢查納米級材料的微觀結構和三維地形。該系統由包含聚焦電子束的柱、檢測系統和樣品制備平臺組成。FEI XL 40配備了專用的立柱設計，確保了卓越的性能。它結合了帶有加熱燈絲的軸向型電子槍，能夠最大加速電壓高達30千伏。它采用兩柱設計，采用短弧柱實現低放大倍率成像，采用傾斜長弧柱實現高放大倍率成像。飛利浦XL-40的檢測系統為信號捕獲提供了多種選擇。其標準配置配備了二次電子檢測器、反向散射電子檢測器、鏡頭內檢測器和信號束成像檢測器。這允許進行各種成像和分析,例如真正的3D成像、合成光譜、線掃描等等。飛利浦XL 40還包括樣品制備平臺。這個平臺配備了一系列的樣品階段和配件，如快速交換階段和FEI-QIT階段進行內聯樣品傳輸。這些工具使用戶能夠快速、準確地處理和分析各種樣本類型。PHILIPS/FEI XL-40是用於研究和工業應用的強大工具。它具有低電壓、低真空能力,非常適合非導電材料,高圖像分辨率確保用戶獲得最優質的圖像。由於其非凡的能力，XL-40對於希望對納米級材料進行詳細檢查的科學家來說是必不可少的。