二手 PHILIPS / FEI XL 40 #9164730 待售

ID: 9164730
Electron microscope.
PHILIPS/FEI XL 40是一種掃描電子顯微鏡,設計用於小面積標本的高級成像。它具有高達0.7埃的超高分辨率,使用戶能夠生成高度詳細的表面圖像。FEI XL 40獨特的三重光束設計產生了最小化背景噪聲的優越圖像,在控制電子束特性時提供了更大的靈活性。顯微鏡有一個可變的加速電壓範圍從10-30kV,允許廣泛的放大和成像分辨率。PHILIPS XL-40的放大功能包括從500倍到700,000倍的範圍。顯微鏡還有一個場發射槍(FEG),它允許超細平面分辨率小於1nm,用於成像標本上的超細特征。大面積CCD相機可以快速掃描尺寸不超過25毫米x 25毫米的樣品,同時還能提供卓越的圖像質量。這種高分辨率成像結合先進的圖像分析能力,使PHILIPS XL 40成為工程材料樣品分析的行業標準。XL-40還具有在低真空和高真空環境中進行成像的能力。這使用戶能夠對可能無法在正常高真空條件下生存而不會受到損壞的細膩樣品進行成像。同樣的,FEI XL-40可以設置環境和浸沒掃描電子顯微鏡,這使得它非常適合分析有機和無機樣品。PHILIPS/FEI XL-40配備了多種配件,最大限度地提高用戶靈活性。可變壓力系統允許用戶調整環境壓力,以適應樣品的需求。特殊的附件包括一個用於精細樣品的冷凍支架,以及一個可轉動的舞臺,以允許進一步成像的可能性。此外,顯微鏡的編程能力可以通過用戶定義的軟件腳本進行擴展。XL 40是一種技術先進的掃描電子顯微鏡,非常適合任何先進的實驗室成像需求。它結合了超高分辨率、出色的成像分辨率和靈活的附件選項,使其成為對小面積樣品或精細樣品成像的絕佳選擇。
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