二手 PHILIPS / FEI XL 40 #9248867 待售

PHILIPS/FEI XL 40是一種掃描電子顯微鏡（SEM），用於在比其他形式顯微鏡更大的放大倍率下獲取標本的高分辨率圖像。它利用電子而不是光對樣品成像，合成的圖像可以分析極小的特征，其大小可達納米。這種SEM具有先進的電子束柱和可調節的磁透鏡系統，以及一個有特殊插件的分析室，以容納更大的樣品。在性能方面，FEI XL 40提供優於傳統光學顯微鏡的分辨率、優越的對比度和更高的信噪比。這可以在成像標本時提供更多的細節和清晰度。該模型具有廣泛的適用於多種材料的操作模式，如半導體、聚合物和活體樣品。此外，它還能成像掃描速度高達每秒5,000倍物理杠桿的大型標本。PHILIPS XL-40具有許多旨在簡化成像過程的功能,包括用戶友好的圖形用戶界面、高級樣本控制、屏幕上的編輯和分析以及自動數據收集。內置的微處理器還允許自動測量一系列參數,例如樣品的厚度和幾何形狀。該系統還配備了真空自動調節，以保持最優工作條件。在圖像采集方面，FEI XL-40利用了一系列微觀技術，包括二次電子成像、反向散射電子成像和X射線微分析。圖像也可以保存在一系列文件類型中,包括JPEG、BMP和TIFF。數據分析可以在采集後使用特定軟件進行。XL-40適用於各種研究和商業應用，設計用於學術和工業環境。它能夠為分析和成像目的對一系列粒子進行成像，因此非常適合各種科學研究。