二手 PHILIPS / FEI XL 40 #9250114 待售

PHILIPS/FEI XL 40是一種掃描電子顯微鏡（SEM），旨在提供高分辨率的成像和分析能力。它配備了列內直接探測器，提供了前所未有的分辨率水平。FEI XL 40能夠以高達1.5納米的分辨率成像各種結構和材料。這使得它成為研究納米級結構和材料的寶貴工具。PHILIPS XL-40的柱內探測器，即EDX，是一種用於研究樣品元素組成的光譜儀。當電子與樣品相互作用時，它們會失去能量。EDX測量能量損失並創建樣品的元素圖，揭示元素組成和分布。這使得在單一分析中研究形態和化學特征成為可能。PHILIPS/FEI XL-40還裝有高級級，使其達到0.5納米的定位精度。此階段還配備了AutoAlign對齊系統，確保樣品始終正確定位以進行成像和分析。舞臺可容納直徑不超過100毫米的樣品。XL-40非常適合各種材料和樣品類型。其可變壓力系統允許對低真空樣品進行成像，如液體和生物顆粒。此外，反向散射電子探測器提供高對比度圖像，非常適合分析較厚的樣品，如塑料、陶瓷和金屬。XL 40有一系列的高性能分析工具，允許它用於各種應用。其中包括對3D中的樣本進行成像和分析、執行地形、組成和相位分析以及測量晶粒大小和分布的能力。它還具有智能樣品處理功能,確保樣品始終被準確定位和定位以進行分析。綜上所述，FEI XL-40是一種功能強大的掃描電子顯微鏡，具有無與倫比的分辨率和分析能力。其內列EDX探測器、高精度級和可變壓力系統使其非常適合廣泛的應用，從成像低真空樣品到地形、組成和相位分析。它提供了先進的控制和智能水平，使其成為納米級應用的完美選擇。