二手 PHILIPS / FEI XL 40 #9252220 待售

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ID: 9252220
Scanning Electron Microscope (SEM) With OXFORD EDX detector.
PHILIPS/FEI XL 40掃描電子顯微鏡(SEM)是一種多功能儀器,為用戶提供卓越的成像質量和卓越的分辨率。它能夠達到1納米以下的分辨率,非常適合復雜的分析任務。FEI XL 40配備了多種配件,幾乎可以容納任何樣本量。它還具有自動校準功能,用戶可以任意放大精確測量樣品。飛利浦XL-40由兩級渦輪泵浦壓力設備提供動力,提供超高真空環境,這對於超分辨率成像至關重要。該系統設有差動泵送級,可以在試樣外殼內調節壓力。加速器電壓的範圍為0.001至30 kV,給使用者廣泛的對比度和景深。電流最高可調整至1​​的,允許精確成像。PHILIPS/FEI XL-40具有一個高度可達36厘米的大腔室,使得研究不同尺寸的樣品成為可能。它還擁有一個數字成像裝置。易於使用的控制軟件具有用戶友好的界面,並允許極大的靈活性。XL-40設計用於日常使用,為可重復的實驗提供可靠的性能。PHILIPS XL 40具有成像、制圖、納米電學表征、EDS(能量色散X射線光譜)分析、一般樣品分析等多種應用。該軟件還使獲取二維和三維圖像成為可能,從而可以進行更詳細的分析。該機器還能夠生成有機樣品的高分辨率圖像。它配備了提供高達300 A/cm2亮度的冷場發射槍(FEG)技術,實現了更好的對比度和景象深度。總體而言,FEI XL-40掃描電子顯微鏡是需要高分辨率圖像、出色對比度和易用性的研究人員的理想工具。其全面的功能使其成為任何正在尋找通用可靠SEM的實驗室的絕佳資產。
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