二手 PHILIPS / FEI XL 40 #9276331 待售

PHILIPS/FEI XL 40是一種最先進的掃描電子顯微鏡（SEM），利用掃描電子束來創建材料或樣品表面的圖像。FEI XL 40在真空環境中運行，電子被加速在探測器或感光材料上產生圖像。電子束在樣品表面被掃描，當電子撞擊樣品時被收集。這些電子創造了表面的二維畫面。飛利浦XL-40的放大倍數範圍從5倍到500,000倍。放大範圍是利用電子在1 kV至30 kV的各種加速電壓下實現的。XL 40是一個環境SEM,這意味著它具有在各種環境條件下創建高分辨率圖像的多種功能。其中包括可變濕度和溫度控制、氣體輸送和液體樣品輸送。PHILIPS XL 40還具有執行二次和反向散射電子（BSE）成像的能力。BSE成像利用散射出樣品表面的電子來創建圖像。這種成像技術可以洞察樣品的地形、元素組成和所研究材料的厚度。除了SEM功能外,FEI XL-40還包括許多增強其性能的高級功能。這些特性包括高分辨率相機系統、EDS、EBSD、WDS等分析特性、非導電樣品的樣品碳塗層能力，以及各種探測器以不同模式對樣品成像。對於材料科學和納米技術領域的研究人員來說，XL-40是一種通用而有力的工具。它結合了成像能力、分析特征和環境控制，將使研究人員能夠洞悉他們的材料和標本的特性，而傳統顯微鏡技術是無法實現的。