二手 PHILIPS / FEI XL 40 #9399422 待售

PHILIPS/FEI XL 40是一種掃描電子顯微鏡，設計用於納米和亞納米級材料的高分辨率成像。這款電子顯微鏡的特點是具有高度聚焦和高能電子束的透鏡系統，以及冷場發射槍和集成的自動級控制。集成的微處理器和數字成像系統為用戶提供了高度詳細的成像選項，包括自動對焦和自動導航菜單。它還具有智能對象識別系統，用於快速評估樣本。這種特性的結合使得FEI XL 40成為研究和生產中高分辨率成像的絕佳工具。高靈敏度電子檢測器提供了以各種模式對材料成像的能力，包括掃描電子顯微鏡（SEM）和反向散射電子（BSE）檢測器。SEM為用戶提供了高達50.000倍的高分辨率視圖,而BSE檢測器使他們能夠識別樣品的不同特性,如晶界和缺陷部位。PHILIPS XL-40是一種用於分析材料的通用工具,其成像功能可用於許多應用。這些包括測量樣品地形，測量化學和結晶性質，成像細胞、細菌和病毒等生物樣品。此外，XL-40有助於效率和精度的顯著提高，因為電子束可以精確地聚焦在感興趣的樣品上，並且不斷監測電子束以確保最佳性能。此外，成像過程的自動化消除了傳統SEM研究所需的大量體力勞動。總體而言,PHILIPS/FEI XL-40是實現材料高分辨率成像的絕佳工具。它提供卓越的圖像分辨率、自動成像過程和通用應用程序。這些特性使得它非常適合用於研究和生產目的，對於那些需要納米級高分辨率成像的人來說，這是一個絕佳的選擇。