二手 PHILIPS / FEI XL 820 #9243141 待售

PHILIPS/FEI XL 820掃描電子顯微鏡（SEM）是一種用途廣泛、功能強大的工具，用於提供高分辨率成像和樣品分析。SEM出色的分辨率、對比度和細節能力使其非常適合廣泛的科學應用,如材料和生命科學,以及工業和電子分析。FEI XL 820 SEM的開放式設計允許對各種樣本量、形狀和厚度進行成像-垂直方向最高可達295mm長和150 mm高。在橫向和深度方向上,可用的最高分辨率大約為3nm,從而能夠檢測和分析納米級的最小特征。此外，PHILIPS XL 820還擁有獨特的設施，可采用「鏡頭內」二次電子探測器，對絕緣材料和電阻材料進行高對比度成像，不產生充電效果。SEM配備了一個用於原位分析和可變壓力（VP）技術的自動化環境室，可在低真空環境（如空氣、液體或氣體）中進行成像和分析。它還能夠進行篩樣銷毀，特別適合故障分析。它有一個自動對齊系統,允許它直接測量具有復雜幾何形狀的大長度範圍內的輪廓。XL 820 SEM是先進的數據采集和圖像處理軟件的補充.該軟件為分析數據和生成結果提供了高效的方法。它允許用戶生成3D圖像模型，測量距離，校準特征，甚至執行光譜分析。綜上所述,PHILIPS/FEI XL 820 SEM是一款功能強大的工具,可提供出色的分辨率、對比度和細節功能。它是各種微觀分析應用的理想解決方案，從材料和生命科學到工業和電子。獨特的功能和先進的軟件使其成為研發環境的寶貴資產。