二手 PHILIPS / FEI XL 830 #293627422 待售

PHILIPS/FEI XL 830掃描電子顯微鏡（SEM）是一種先進的成像儀器，用於分析表面特征、組成和形態。這種先進的SEM提供了廣泛的功能,非常適合物理、化學和材料科學應用。FEI XL 830是一款全自動SEM，具有現場發射源和高分辨率數字信號處理器。這些組件的組合提供了最高級別的性能和多功能性。利用靈活的成像功能,用戶可以快速操作擺動、傾斜、範圍和調諧器設置,以顯示具有精細細節的低分辨率和高分辨率圖像。顯微鏡還能夠在常規和STEM（掃描透射電子顯微鏡）模式下成像。PHILIPS XL 830還允許先進的樣品制備和分析。高分辨率數字信號處理器使用戶能夠正確定位所需的區域進行分析,而樣品準備室允許對樣品進行精細處理,以便進行最佳分析。高強度電子束和反向散射成像技術使得分析原子尺度樣品的組成和結構特性成為可能。XL 830的高功率分析能力與其易於使用的軟件和系統組件相匹配，使其成為任何研究實驗室的絕佳資產。它的靈活性允許電子束被用於多種圖像模式，包括用於檢查有機和無機樣品的二次和反向散射成像。此外，系統配備了包括能量色散X射線（EDX）光譜、能量濾波透射電子顯微鏡（EFTEM）、波長色散X射線（WDS）光譜等多種分析能力。這些分析能力使PHILIPS/FEI XL 830成為對納米級樣品進行元素、空間或組成分析的有效工具。總體而言,FEI XL 830是一款用途廣泛、功能強大的掃描電子顯微鏡,使用戶能夠以超高精度以各種分辨率執行分析。其數字信號處理器和可變控制最大限度地提高了易用性和可靠性,而其高功率分析功能提供了原子級樣品的廣泛信息。它的靈活性和先進的特點使其成為物理、化學和材料科學領域各種研究應用的理想選擇。