二手 PHILIPS / FEI XL 830 #293653200 待售

PHILIPS / FEI XL 830
ID: 293653200
Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM).
PHILIPS/FEI XL 830是為研究和工業應用而設計的頂級掃描電子顯微鏡(SEM)。它具有三個獨立的電子柱,以實現最大的通用性,從而能夠觀測分辨率低至2納米的復雜和復雜的結構。SEM配備了檢測系統,可提供高達50納米的最大對比度和分辨率,為用戶提供最佳成像功能。FEI XL 830具有實時查看大視野的功能,這是它的一套高端成像工具所實現的。其中包括數碼相機、數碼圖像分析軟件和3D成像。數碼相機允許捕獲高分辨率圖像,而圖像分析軟件則用於解釋收集到的圖像。最後,3D成像過程讓用戶能夠從多個角度查看樣本,讓他們更全面地了解樣本的復雜細節。PHILIPS XL 830還配備了用於標本制備的激光系統,可以讓用戶在不造成損壞的情況下精確切割和切片標本。這個SEM還能夠進行元素分析,這使得它成為分析各種材料的理想工具。高分辨率加上集成的探測器,使其成為材料科學研究的寶貴工具。XL 830用戶友好,具有易於使用的界面和符合人體工程學的控件。液晶屏使用戶可以監控其成像過程,從而輕松調整顯微鏡設置以獲得最佳成像效果。它還具有自動掃描功能,可長時間無人值守地運行掃描,使其成為高吞吐量實驗室的合適選擇。最後,PHILIPS/FEI XL 830是一款高性能掃描電子顯微鏡,可提供卓越的成像能力和多功能性。它是廣泛的材料分析應用的理想選擇,提供高圖像分辨率、優越的對比度以及分析多種材料的能力。FEI XL 830具有自動掃描和符合人體工程學的設計,是一種適合任何研究和工業環境的頂級儀器。
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