二手 PHILIPS / FEI XL 830 #293754265 待售
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PHILIPS/FEI XL 830是一種與STEM（掃描傳輸）功能密切相關的最先進的掃描電子顯微鏡（SEM）。FEI XL 830以高分辨率成像、無與倫比的景深而聞名，可讓使用者從不同角度檢視詳細樣本。該設備的核心是其電子槍單元，該單元包含一個能產生高電流（最多100納安普數）的的、以氙為基礎的冷場發射（CFE）陰極。這種極高的電流使得PHILIPS XL 830在STEM模式下使用時能夠產生分辨率為0.2納米、甚至更高分辨率為0.1納米的圖像。此外，CFE陰極有一個小的斑點尺寸，有效地允許高分辨率成像樣品的小面積。XL 830也是獨一無二的，它支持三個電子束的發射，可用於選擇性區域成像，允許用戶通過不同角度的多個圖像查看更復雜、面積更大的樣本。此外，該系統還提供多種成像功能，如能量色散X射線光譜（EDS）和基於wa的X射線光譜（WDS）。這些允許用戶在進行定量測量的同時查看樣本的元素組成。此外,為了幫助樣品檢驗,PHILIPS/FEI XL 830配備了強大的自動對焦功能。其Autofocus Plus（APF）單元感應樣品的表面位置，自動適應電子束的焦點。這有助於最大限度地減少獲取圖像所花費的時間,並為詳細的樣本檢查提供準確的分辨率。此外，FEI XL 830支持廣泛的標本持有者進行優化成像過程。一個標準的低溫支架可用於查看DNA等生物樣品，而金屬塗層的存根標本支架能夠研究金屬和其他不透明樣品。該機器還配備了可選的電子反向散射衍射（EBSD）探測器，用於金屬和合金的晶體學分析。最後，飛利浦XL 830以方便易用的直觀軟件而聞名。用戶友好的導航和可定制的窗口布局使用戶能夠快速輕松地訪問各種設置和工具,從而獲得最大的通用性和樣本掃描精度。總體而言,XL 830是研究人員尋求強大但用戶友好的SEM的理想選擇。它結合了出色的成像和分析能力--如CFE陰極、能量色散X射線光譜（EDS）和基於wa的X射線光譜（WDS）--以及用戶友好的軟件，使其成為樣品檢查的首選。
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