二手 PHILIPS / FEI XL 835 #293811123 待售

PHILIPS/FEI XL 835是一種高性能掃描電子顯微鏡（SEM），設計用於納米級成像。顯微鏡的放大範圍高達100萬倍，看到的細節小至1納米。這種細節和分辨率的水平允許樣品的驚人圖像，以使單個原子的可視化點。它配備了洛倫茲場反向散射探測器，它提供高對比度和高導電、低導電和絕緣材料之間的清晰區分的圖片。FEI XL 835能夠產生多種成像模式，包括次級（SE）、反向散射（BSE）衍射（EDX）和透射電子成像（TE）。它還具有先進的6軸級漂移校正，以快速獲得正確的成像參數，並最大限度地減少高質量圖像的漂移。PHILIPS XL 835具有高分辨率數碼相機和視頻監視器，對樣品進行高分辨率分析，能夠檢測樣品的小細節和變化。顯微鏡還包括自動化的簡單遠程、PC控制的操作以及一系列附加附件，使其在各種應用中用途非常廣泛。XL 835具有主動沖擊電流校正系統，補償加速度電壓的影響，使產生的圖像更加準確，工作時間更短。該系統還具有用於最高對比度圖像的純Z焦點校正功能。這款功能強大的顯微鏡吸引人的特點包括其用於應用高級算法平衡掃描圖像亮度和對比度的Sample Rotation和Scan Equalize模式；3 D成像功能；用戶友好界面和自動遙控；和原位樣品持有者柵格加熱。此外，PHILIPS/FEI XL 835配備了場發射電子源和高精度靜電屏蔽。這有助於實現出色的分辨率,並減少圖像上的充電工件。總之，FEI XL 835是一種具有高端特性的優秀掃描電子顯微鏡，既能滿足材料科學又能滿足生物研究的所有需求，使用戶能夠以驚人的分辨率和準確性進行納米級成像。