二手 PHILIPS / FEI XL 855 Altura #122396 待售

ID: 122396
晶圓大小: 6"-12"
優質的: 1999
Dual ion beam system, 6"-12" Sidewinder ion column Beam current: 20 nA SFEG SEM: 3 nm Schottky FEG Resolution: 3 nm at low kV Chamber loadlock Multiple detector modes (2) Gas injectors EDAX EDS system Magnum Operating system: Windows XP 2 GIS EDX Stage, 8" Stage tilt: 52° EDWARDS QDP40 Dry pump TEM Sample extraction Immersion lens 1999 vintage.
PHILIPS/FEI XL 855 Altura是一款掃描電子顯微鏡(SEM),專為高通量、高性能成像和分析而打造。它為晶圓和樣品成像應用提供卓越的性能。憑借其先進的硬件和軟件,用戶可以期待卓越的圖像分辨率、快速的圖像捕獲和準確的分析。FEI XL 855 Altura具有160mm的大腔室,能夠容納樣品階段的傾斜和旋轉運動,以提高成像和分析的精度。顯微鏡具有高分辨率的數字延遲場能量濾波器,能夠在相差成像模式下實現超高速成像。此外,PHILIPS XL 855 Altura還擁有先進的光學系統,具有高達五軸的控制功能和多種光學模式,包括上照明和半透明後照明。顯微鏡的探測器為3D成像、低kV成像和心電圖提供了卓越的對比度和分辨率。此外,其專利的低真空SE成像模式有助於最大程度地減少樣品損壞並最大程度地減少圖像偽影。該設計還集成了視覺和預測自適應焦點控制器、通過多個位置全自動移動以及用於控制圖像分辨率、對比度和亮度的圖像系統技術(IST)軟件。XL 855 Altura的其他特性包括冷凍樣品的CryoPrep樣品加載選項、多圖像自動縫合、多通道教育模式、風冷/水冷電子柱、無限成像參數、兩束成形光學器件和自動校準模式。借助這些功能和更多功能,用戶可以期待卓越的成像分辨率和成像精度。總體而言,PHILIPS/FEI XL 855 Altura是一款先進的掃描電子顯微鏡,提供強大的成像、分析和控制功能。憑借其先進的數字延遲場能量濾波器、視覺和預測自適應焦點控制器以及IST軟件,用戶可以期待卓越的分辨率、工件最小化和自動化力學。
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