二手 PHILIPS / FEI XL Sirion #293636315 待售

PHILIPS/FEI XL Sirion掃描電子顯微鏡（SEM）是一種先進的成像設備，用於研究多種微觀特征和材料。這款SEM配備了列內「FEG」野外發射槍（FEG）技術，使其成為檢查納米級粒子的強大工具。FEG產生能穿透薄樣本的高能電子，允許更高解析度的影像。其專利的肖特基場發射源（SFES）技術使成像系統能夠產生超高對比度、高分辨率的圖像。柱內槍的設計和防輻射屏蔽允許更簡單的安裝過程和最小化的機械損壞的風險。SEM還提供令人印象深刻的映像功能。該單元的分辨率高達1.4納米，非常適合研究高度詳細的結構，如納米級粒子、薄膜和其他細膩材料。直觀的觸摸屏界面允許快速輕松地定制對比度、亮度和分辨率級別。這臺成像機還可以獲取多個圖像，允許生成3D重建和高分辨率映射。FEI XL Sirion的自動對準特性使實驗的執行變得快速而容易。對齊過程減少了定向樣品所需的時間，從而加快了操作速度，使正在進行的實驗更容易完成。此外,PHILIPS XL Sirion還提供了一種自動化的表面化學分析功能,能夠在不進行大量樣品制備的情況下對材料進行表征。最後，XL Sirion SEM還具備多種成像模式，包括低真空、可變壓力、ESEM和原位模式。利用這些不同的成像模式，用戶可以更輕松地探索材料和粒子，使他們能夠更準確地獲取樣品的詳細信息。