二手 RAITH / PREMTEK ionLiNE #9402127 待售
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ID: 9402127
Ion-Beam lithography system
Resolution: 50nm
Dedicated nano FIB column
FE-SEM Column
Liquid metal alloy source for multi-species ion beam technology
Laser interferometer stage
Automated wafer scale e-beam writing
Exposure: 30 kV
Imaging
Thermal shield
Unique split room.
RAITH/PREMTEK離子LiNE是一種掃描電子顯微鏡（SEM），用於多種不同類型的成像，範圍從超低電壓到幾百伏。它有一個5軸級，提供高精度和較大的長零件工作面積，以及一個高精度的定位系統，使成像分辨率下降到納米尺度。RAITH離子LiNE能夠同時進行低壓和高壓分析,允許分析任何類型的材料,無論其大小如何。儀器配備了高性能光學器件，使表面細節的成像具有廣闊的視野。PREMTEK離子LiNE具有可變光斑大小的光束加速電壓，具有較高的傳輸量和較大的樣品區域和各種樣本量的優秀光束通量。它還具有可調的壓力和溫度保護，允許安全可靠的操作在高真空操作。對於成像,ionLiNE具有廣闊的視野、三個月的不間斷掃描、超高分辨率成像和出色的材料對比度。它配備了自動化的暴露表面分析顯微鏡，可用於監測表面輪廓，檢測表面缺陷，快速獲得3D地形。RAITH/PREMTEK離子LiNE還集成了用於化學、元素和晶體學分析的STEM、EBSD和EDS系統。RAITH ionLiNE隨附的用戶友好、直觀的軟件允許操作而無需任何復雜的腳本。軟件還包括數據采集、圖像分析、圖像處理和高級統計分析工具。此外,PREMTEK離子LiNE包括三種先進的成像技術,以擴展成像能力：先進的串行截面重建、傾斜柱頭和漂移校正。總之，離子LiNE是一種先進的掃描電子顯微鏡，具有廣泛的特點，使其幾乎適合任何應用。它具有出色的成像能力,能夠產生納米級的圖像,並且先進的工具（如高級串行截面重建、傾斜柱頭處理和漂移校正能使成像功能得到擴展。隨附的直觀軟件允許操作而無需任何復雜的編程，使其成為電子顯微鏡經驗有限的用戶的理想選擇。
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