二手 SEIKO SEIKI SMI3050SE #9202859 待售
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單擊可縮放
ID: 9202859
晶圓大小: 8"
優質的: 2006
FIB Scanning Electron Microscope (SEM), 8"
Upto 2" sample sizes
Ga+ focused ion beam column for nanoscale fabrication
Field emission SEM for observation during FIB processing
Image resolution: 4 nm
Maximum current density: 30 A/cm² or greater
2006 vintage.
SEIKO SEIKI SMI3050SE掃描電子顯微鏡是一種高性能成像工具,可用於多種應用,包括材料科學、金相、故障分析等等。該部隊配備了30kV的六倍場發射槍和雙槍控制,可以提供清晰和高度詳細的圖像,而不會產生任何失真。SEIKO SEIKI SMI 3050 SE還提供了一種反向散射電子探測器,能夠實現先進的3D成像能力,包括定向分析、對比度增強、景深成像等等。在分辨率方面,SMI3050SE提供了高達15nm的驚人分辨率,並且該單元還配備了自動Z軸,可確保精確調整和測量。此外,SMI 3050 SE能夠在特高壓環境中使用,這要歸功於標準的全範圍斜視端口和可調節的側壁級。顯微鏡還提供了數字圖像處理和計算機輔助測量等廣泛的先進成像技術,以及直觀的用戶界面和軟件包。SEIKO SEIKI SMI3050SE易於適應,可以根據用戶的需要進行定制。該單元的多功能設計可以容納廣泛的樣品持有者和分析配件,允許用戶在各種領域進行實驗,包括醫學、材料、生物和半導體。SEIKO SEIKI SMI 3050 SE憑借其先進的能力,是眾多科研項目的強大可靠工具。SMI3050SE是一個功能強大,用途廣泛的掃描電子顯微鏡,提供卓越的成像結果。先進的特性和分辨率使該單元非常適合各種科學應用,其UHV就緒設計允許可靠和一致的結果。SMI 3050 SE憑借其雙槍控制、3D成像能力、數字圖像處理和計算機輔助測量,是醫學、材料、生物、半導體領域研究項目的絕佳選擇。
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