二手 SEIKO SMI 3200 #9025735 待售
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已售出
ID: 9025735
High performance FIB SEM system
Specifications:
Secondary electron image resolution: 4 nm
Maximum probe current density: 30 A/cm2 or more
Maximum probe current: 20 nA
Observation field: 0.5 x 0.5 um to 2 mm
Beam irradiation position stability: 0.1 um/10 min
Acceleration voltage: 5 to 30 kV
Ion source: Ga liquid metal needle ion source
Guaranteed running time: 1000 h
Maximum acceleration voltage: 30 kV
Ion source control: Filament current, suppression electrode, extraction electrode
Lens: Electrostatic type
Blanking: Electrostatic type
Optical axis correction: Electrostatic type
Stigmator correction: Electrostatic type
Adjustable aperture: 2-Axis motor drive
XY Deflector: Electrostatic type
Scan rotation: 0~359.9º / 0.1º Step setting
Currently in storage
2006 vintage.
SEIKO SMI 3200是一種功能強大且可靠的掃描電子顯微鏡（SEM），非常適合廣泛的應用。它具有渦輪泵,可產生高達5 x 10-4 Pa的極致真空,其獨特的可變光束技術可提供高達8mm的出色成像分辨率。SMI 3200包括一個內置的掃描電子顯微鏡檢測器，可以針對特定類型的樣品分析進行調諧，它提供了最高的靈敏度和分辨率可用。它還配備了先進的計算機控制器,可確保數據和圖像在操作人員最小的幹預下快速、輕松地顯示出來。此外,SEIKO SMI 3200還促進了數字成像,能夠獲取各種大小的實時實時圖像,並能夠分析從10nm到幾百微米的圖像。SMI 3200配備了超高分辨率相機和可變視場,可讓操作員以任何放大倍率聚焦表面的任何區域,而無需調整焦點。此外，該探測器還可與晶體元素理想的光場成像等特性配合使用；對比度增強，可以在樣品表面上描繪納米級的精細結構；和雙束成像，可結合二次電子和反向散射電子進行3D圖像。SEIKO SMI 3200極為人性化，具有高度直觀的圖形用戶界面，允許快速輕松的設置和操作。此外，掃描電子顯微鏡便於屏幕上的數據顯示，從而能夠立即反饋圖像分析結果。總之，SMI 3200是一種可靠而強大的掃描電子顯微鏡，非常適合各種成像應用。其卓越的性能、用戶友好的設計和可靠的操作使其成為分析和成像非常小到非常大規模樣品的完美工具。
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