二手 SEIKO SMI 3200 #9095358 待售

SEIKO SMI 3200
製造商
SEIKO
模型
SMI 3200
ID: 9095358
Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB SEM).
SEIKO SMI 3200是一種先進的掃描電子顯微鏡(SEM),旨在為各種應用提供高質量的成像。此型號由SMI生產,能夠提供從3 nm到100 mm的各種分辨率。它還擁有1 nm至1,000 μ m的成像景深。SMI 3200具有數字信號處理系統以及自動優化功能。高級光線跟蹤算法的包含為用戶提供了一個具有低噪聲水平的異常銳利的圖像。SEIKO SMI 3200能夠在多種環境條件下運行,包括溫度在-25°C至+40°C之間。它還有一個靜電透鏡系統,裝在真空室中,具有柔性掃描區域。SMI 3200電磁束探測器提供了廣泛的靈敏度範圍,介於每秒0.1至10光子之間。這有助於確保圖像質量不受影響,即使在分析吸收系數低的樣品時也是如此。SEIKO SMI 3200還提供了一系列控制顯微鏡的自動化過程。這包括自動化優化功能,如自動聚焦、自動波束電流、自動點大小和自動定位。最後,SMI 3200有多種硬件和軟件選項。它配備了多種成像工具,如成像系統、探測器和SEM基座,它們都與各種SEM兼容。這些工具有助於為用戶提供最佳的映像體驗。除硬件外,SEIKO SMI 3200還提供了廣泛的軟件工具,用於數據處理和分析。這包括模式識別和數據分割、自動對比度測量、3D渲染和語言處理等工具。總體而言,SMI 3200是SEM的絕佳選擇,可為用戶提供廣泛的映像和控制功能。SEIKO SMI 3200從其廣泛的分辨率到其先進的光線追蹤算法和健壯的軟件工具,都是科學研究和工業應用的優越工具。
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