二手 SEIKO SMI 3200 #9116789 待售
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ID: 9116789
FIB System
Advertised resolution: 4nm
Currently achieved resolution: <5nm
Load time: 2’33”
Sample size/stage movement: 8”
Stage tilt: -5o to 60o
Imaging options: secondary electron, secondary ion
Etching capabilities: Ga ion beam, rate dependent on area.
SEIKO SMI 3200是一種掃描電子顯微鏡（SEM），設計用於在廣泛的樣品上進行高分辨率的數字成像。它能夠將樣品放大至500,000X，並配有提供最佳分辨率和對比度的高性能電子光學透鏡。它具有場發射源，使其具有很高的一致亮度水平。另外，它的有源反向散射電子檢測器能夠用相應的元素圖進行詳細的成像。它的快速采樣階段包括為掃描和傾斜運動設計的混合體。這樣就可以對4,000 mm2的面積進行自動、精確的掃描,並對樣品表面進行直接成像。低真空（LVA-SEM）操作為非導電樣品成像提供了理想的環境。它還配備了具有短抽水時間和高分辨率成像功能的可變壓力設備。SMI 3200配備了X射線（EDS/WD）探測器，具有高精度的3D對準和精煉系統，對采樣區域提供高分辨率的觀測和定量分析。而且顯微鏡還兼容SEIKO RedFilm進行晶體取向分析。此外，其集成操作單元與直觀的圖形界面易於使用。顯微鏡還能夠捕捉到高分辨率的SEM圖像，並提供數據轉換成常用格式以進一步分析。此外，它的高速數據傳輸機通過將圖像和定量數據從儀器快速傳輸到主機來促進分析。總體而言,SEIKO SMI 3200是那些尋求高性能SEM的用戶的理想選擇。它具有高分辨率的電子光學透鏡和BSE探測器，在成像和元素映射方面提供了無與倫比的精度。此外，它的低真空操作、混合采樣階段、EDS檢測器、直觀操作工具都使這款SEM成為數字成像和分析的絕佳選擇。
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