二手 SII NANOTECHNOLOGY / SEIKO SMI-3050 #9078488 待售

SII NANOTECHNOLOGY / SEIKO SMI-3050
ID: 9078488
優質的: 2006
Focused ion beam microscope, 2006 vintage.
SII NANOTECHNOLOGY/SEIKO SMI-3050掃描電子顯微鏡(SEM)是專門設計用於納米技術的最先進的儀器。它是一種高性能、相對高分辨率的SEM,具有廣泛的功能,可用於納米材料的高級成像和分析。SEIKO SMI-3050配備了兩種不同的電子探測器:二次電子探測器和反向散射電子探測器。SE探測器提供了樣品表面的詳細信息,而BSE探測器提供了更多的三維分析。此外,SII NANOTECHNOLOGY SMI-3050還配備了Everhart-Thornley探測器,可提供高精度的表面電流映射。SMI-3050能夠將物體成像到只有1納米的分辨率。它采用了新設計的冷場發射槍,為壯觀的成像結果提供了非凡的穩定性和低噪音。此外,該儀器還提供極低的樣品漂移和振動,以提高精度。SII NANOTECHNOLOGY/SEIKO SMI-3050提供了表征表面地形和納米結構的先進成像技術的獨特組合,包括繪制晶體取向圖、分析表面電勢和相位以及研究電荷分布動力學。SEIKO SMI-3050還提供一系列先進的分析技術,如能量色散X射線光譜(EDX)能力、光譜和珠子分析。EDX可用於提供樣品局部成分的元素映射,這是研究樣品汙染物的有用技術。光譜法可以分析標本中的晶粒大小和組成等特征,而珠子分析特征可以讓用戶量化粒子共振頻率。SII NANOTECHNOLOGY SMI-3050在材料科學、半導體工程和納米技術等多個領域都有很強的影響力。它是一種非常適合研究科學和工程材料的研究人員的工具,如金屬、合金、陶瓷和塑料。它能夠提供極精細的分辨率成像和一系列分析技術,使其成為各種研究應用的寶貴工具。
還沒有評論