二手 SII NANOTECHNOLOGY / SEIKO XV-300DB #9257399 待售

SII NANOTECHNOLOGY / SEIKO XV-300DB
ID: 9257399
Particle measurement system.
SII NanotechnologiesSII NANOTECHNOLOGY/SEIKO XV-300DB掃描電子顯微鏡是一種用於檢查微粒的先進研究儀器。它是一種可變壓力掃描電子顯微鏡(SEM),能夠在高真空和低真空(小於10-4)的環境中操作。這允許更多的樣品特征以及微粒和納米粒子的化學和物理特性。SEIKO XV-300DB利用了陰極發光(CL)槍、反向散射電子(BSE)槍、二次電子槍(SE)等電子源的組合。CL槍使用消色差系統,可實現高空間分辨率和自動對焦控制.BSE槍使用自動二次電子探測器,有助於實現更好的成像對比度。SE槍采用靜電電子透鏡,提供高分辨率的粒子表面成像。在放大控制方面,SII NANOTECHNOLOGY XV-300DB采用了一種專利的先進數字變焦技術和指尖控制。這允許用戶有選擇地放大到感興趣的區域以獲得更精細的分析點。此外,XV-300DB還提供三種操作模式:手動模式、半自動模式和全自動模式,可實現高效、準確的成像和分析。SII NANOTECHNOLOGY/SEIKO XV-300DB為標本檢驗提供了特殊的特征。較寬的樣品室允許較重的標本高達500克,響應自動清潔操作允許快速更換標本。該儀器還允許用戶指定的制備技術,如濺射塗層、金屬化和聚合。SEIKO XV-300DB提供了一系列基於各種相互作用模式的專門成像技術:對樣品組成的分析見解、散裝地下成像、ultrasharp成像和表面積測量。它還可以適用於多種探測器:掃描熱顯微鏡和原子力顯微鏡尖端探測器,用於熱分析和凸緣檢測。總體而言,SII NanotechnologiesSII NANOTECHNOLOGY XV-300DB掃描電子是對粒子微觀結構的一種封閉的洞察力,提供了一種精確的方法來檢查微小的物體,可以大大改善數據分析和樣品表征。
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