二手 TESCAN Mira3 #9308067 待售
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ID: 9308067
優質的: 2016
Field Emission Gun Scanning Electron Microscope (FEG-SEM)
Variable pressure field emission SEM
High brightness schottky field emitter
4-lens electron optical design
Detectors:
Everhart-Thornley SE/BSE (ETD)
Retractable BSE detector
In-Beam BSE detector
In-Beam SE detector
Low Vacuum Secondary Electron Detector (LVSTD)
Optics:
Resolution at high-vacuum SE mode
1.2 nm: 30 kV
2.5 nm: 3 kV
Resolution at high-vacuum In-Beam SE mode
1 nm: 30 kV
Resolution in low-vacuum mode LVSTD
1.5 nm: 30 kV
Resolution in beam deceleration mode:
1.5 nm: 3kV
2.5 nm: 200V
Maximum field of view: 100 mm
20 mm: 30 mm WD
EDX: BRUKER NANO QUANTAX 400 Energy Dispersive X-ray spectrometer
Dual 60 mm² XFlash detectors
Resolution: 126 eV Mn Kα, 60 eV F Kα, 51 eV C Kα
Element detection range: Beryllium (4) to americium (95)
Raman: WITEC RISE laser confocal microscope system
Laser:
Excitation wavelength: 532 nm, 75mW
2016 vintage.
TESCAN Mira3是一種場發射掃描電子顯微鏡（SEM），設計用於觀察生物和地質標本，以及各種領域的其他材料。該顯微鏡基於TESCAN專有的FEG（場發射槍）EMmi電子場發射系統,可提供出色的分辨率和對比度圖像,非常適合各種應用。Mira3結合了常規透射電子顯微鏡和掃描電子顯微鏡的穩定性和功率。這就產生了一種能夠提供高達5海裏分辨率的儀器，以及可以用於材料微觀結構研究的具有非常高動力學的高清圖像。TESCAN Mira3也可以提供很大的通用性，因為標本可以在SE（二次電子）和BSE（反向散射電子）成像模式中觀察到。在1 kV至30 kV的加速電壓範圍和0.5 nA至10 nA的電子束電流下，Mira3適用於廣泛的樣品要求。顯微鏡的樣品室是基於TESCAN創新的專利保護的棋盤架。這個持有者即使在高達30 kV的加速電壓下工作也能確保樣品的穩定性，同時也使樣品處理和樣品交換微風。顯微鏡還設有一個用於後處理的柱內離子槍，它允許蝕刻特征，並沈積導電塗層。此外,TESCAN Mira3還配備了一種新的樣品表征體系結構,用於測量電導率、SIMS深度剖析、SEM元素分析和腔室溫度測量等相關參數。在操作和可用性方面,Mira3提供了一個直觀的基於Windows的軟件包,該軟件包提供各種模塊化工具,便於進行示例準備和分析。該軟件包括自動圖像縫合、自動導航等功能，以及各種旨在允許與包括基於SEM的EDX在內的其他分析儀器協同操作的插件。綜上所述，TESCAN Mira3為研究人員和技術人員提供了廣泛的分析技術和令人印象深刻的分辨率水平，使其成為生命科學、材料科學、環境測試、半導體和金屬研究領域許多應用的有力和有用的工具。
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